XPR-300型 透射偏光熔点测定仪

XPR-300型透射偏光熔点测定仪
是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业zui常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
  本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
    偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术，多年研究开发的结果，在国内享有.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。 
二、仪器的主要技术指标 （公司http://www.caikon。。ｃｏｍ/produce/polorize.htm  
:  65310155）
1.显微镜技术参数: 名称  规格 
总放大倍数：   40X---630X 
无应力消色差物镜  4X/0.1 10X/0.25 25X/0.40 40X/0.65弹簧 63X/0.85弹簧 
目镜  10X十字目镜 10X分划目镜
试片  石膏1λ试片 云母1/4λ试片 石英楔子试片 
测微尺  0.01mm
滤色片  蓝色 
带座目镜网络尺 
移动尺  移动范围30mm×40mm 
镜筒  三目观察
2.熔点仪技术参数:
热台组成 性能
显微精密控温仪
 在 20倍物镜下工作温度可达到zui高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定， 30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数
 可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1
?  起始温度室温
?  工作区加热使用面积至少 1X1厘米
?  工作区温度梯度不超过 ± 0.1
?  透光区域 2mm以上，可调
?  显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
?  热台可以随载物台移动
在加热状态下zui高可使用 20倍物镜
 
注意：熔点测定（温度超过100度时，25X的物镜工作距离
太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜） 
 
三、系统数字性     XPR-300C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、*光电转换技术、*的计算机成像技术和精密的温控技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。 
 

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偏光熔点仪使用说明