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白光干涉仪

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 克拉克中国
  • 品牌
  • 型号
  • 产地
  • 厂商性质 代理商
  • 更新时间 2015/12/2 20:09:39
  • 访问次数 858
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白光干涉仪

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


克拉克(中国)有限公司从事可靠性测试设备的销售和测试服务。    

一、金属铸件,岩石,橡胶轮胎等检测: 工业CT,X射线实时成像系统,X光机,透视机。( 工业CT高精度计算机断层扫描系统铸件密度分割容积计算空间分布 )

二、激光测振仪(进口)位移分辨率高达0.008纳米。测量物体振动的速度,加速度,位移,运动轨迹,频率.全场激光测振实现整面物体的XY轴的振动测量可以彩色动画输出。三维激光测振可以实现三轴振动测量。多点激光测振可以同时实现16个振动点振动并可以测量物体瞬间振动和实时的振动模拟.

三、 耗材: 磁粉探伤,渗透探伤        

     磁粉探伤:磁粉对导磁材料钢,铁,钴,镍等,材料表面微小裂纹的检测。 如,发动机,轴承,钢管的表面裂纹的快速检测。渗透探伤包括荧光法和着色法。荧光法是将含有荧光物质的渗透液涂敷在被探伤件表面,通过毛细作用渗入表面缺陷中,然后清洗去表面的渗透液,将缺陷中的渗透液保留下来,进行显象。典型的显象方法是将均匀的白色粉末撒在被探伤件表面,将渗透液从缺陷处吸出并扩展到表面。这时,在暗处用紫外线灯照射表面,缺陷处发出明亮的荧光。 着色法与荧光法相似,只是渗透液内不含荧光物质,而含着色染料,使渗透液鲜明可见,可在白光或日光下检查。


过程补偿声共振测试系统-在线无损检测工件结构缺陷

    它是一种工艺过程补偿的声共振检测系统 使用给定的频率振动工件并记录工件的响应情况. 将工件的共振状态与存储的数据(图形)进行比较 VIPR软件将对所存储的样品组的每一只工件样品的共振记录进行分析,来确定可以准确区分良品和不良品的样式,从而建立分选模块。.自动判定工件的好坏..  PCRI检测缺陷的类型: 常见缺陷----所有工艺裂缝, 夹渣, 化学物质, 性能缺失, ,充填不足, 尺寸差异PCRI检测工艺加工而成的缺陷类型铸铝: 氧化物; 冷疤;收缩孔隙;吹砂孔;延伸度(距角).铸铁: 氧化物; 冷叠边;收缩孔隙;球化率;t热处理; 碳化物.粉末冶金:氧化物;齿缺陷;多孔性;烧结;模压缺陷; 脱碳.锻造:  端料工件; 重复锻压;叠压工件; 淬火;材质差异.

   

四、 环境可靠性试验   工业冷热冲击箱、工业烤箱、恒温恒湿实验箱、温湿度循环实验箱、工业压力锅蒸煮实验箱


五、电子行业的失效分析设备销售及测试服务

芯片分析手段汇总(微焦点xray,SAT;DECAP)

芯片分析手段有:

     1   SAT(超声扫描),无损检查:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等.

     2   微焦点XRay  用途:半导体BGA,线路板等内部位移的分析 ;利于判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷

   XRAY:微焦点X射线可以穿过塑封料并对包封内部的金属部件成像,因此,它特别适用于评价由流动诱导应力引起的引线变形 在电路测试中,引线断裂的结果是开路,而引线交叉或引线压在芯片焊盘的边缘上或芯片的金属布线上,则表现为短路。X射线分析也评估气泡的产生和位置,塑封料中那些直径大于1毫米的大空洞,很容易探测到. ), 德国Feinfocus

     3  日本UNION HISOMET 测量工具显微镜   测量焊球、邦定线高度 Z轴测量误差低于2微米.

     4  BGA LED推拉力测试仪 焊接强度测试仪 采用了AUTO-RANGE技术和VPM垂直定位技术,测试传感器采用自动量程设计,分辨率高达0.0001克.

激光测振仪,芯片推拉力测试仪,HISOMET,纳米CT,渗透探伤

白光干涉仪:非接触式三维表面形状测量仪可以沿垂直轴方向对被测物体进行扫描,它采用光学干涉技术,精密测量样品的表面形状分布。
与共聚焦显微镜、调焦显微镜等三维表面测量技术相比,该表面形状测量仪具有更高的垂直分辨率。

Sunny VSI三维表面形状测量仪可安装在配套的三维数控平台上,实现横向扫描。

系统构成
1)光学照明系统
2)光学成像系统
3)垂直扫描控制系统:
4)信号处理系统:
5)应用软件:
6)显示器

应用领域
LED晶片基板测量
表面粗糙度/平整度分析
硬盘悬臂焊接点的直径测量
太阳能电池纹理缺陷检测

参数 白光干涉仪型 号 Sunny VSI
垂直测量分辨率 0.05um
横向测量分辨率 2.767um/plxels
图像分辨率 768*576 plxels
扫描体积 2.125mm*1.593mm*100um
均方根值重复精度 <0.5nm

 

型 号 Sunny VSI
垂直测量分辨率 0.05um
横向测量分辨率 2.767um/plxels
图像分辨率 768*576 plxels
扫描体积 2.125mm*1.593mm*100um
均方根值重复精度 <0.5nm



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