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Rise-3002型颗粒图像仪介绍
Rise-3002型颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑，通过的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析，具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌，也可得到粒度分布等分析结果。
技术参数：
1、 测量范围：1～3000微米
2、 zui大光学放大倍数：1600倍
3、 zui大分辨率：0.1微米/像素
4、 准确性误差：< ±3%(国家标准物质)
5、 重复性偏差：< ±3%(国家标准物质)
6、 数据输出：周长分布、面积分布、长径分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、Feret径分布、长短径比、中间径（D50）、有效粒径（D10）、限定粒径（D60）、D30、D97、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不均匀系数、曲率系数。
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