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电池材料(钴)中的铅含量测
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  • 上传时间

    2016年07月29日
关键词
铅含量,真空紫外线,短波长,铅痕量,DL
上传者
日立分析仪器(上海)有限公司(浦东分公司)
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资料简介

当下主流的手机,平板电脑,笔记本等电子设备使用的电池材料主成分为钴酸锂类。然而,高含量钴溶液基体的情况下测量铅元素,由于受到了光谱之间的相互干扰,然而使分析变得困难。日立ICP(型号PS3520UVDD)拥有真空紫外波长的观察区域,可从不同波长分析线的区分来改善诸如此类的干扰情况。

1. PS3520UVDD拥有130nm处波长的对应可能。(普通分光器一般只能达到160nm的短波长)
2. 因此,铅元素在短波长143.396nm处不受钴元素特征波长的干扰影响。
3.铅143.396nm波长的检测下限值(DL)可达8ppb,使钴基体下的铅痕量分析成为可能。

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