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利用FT150进行无电解镍镀层膜厚和磷成分分析
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    pdf
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    333.8KB
  • 浏览次数

    532次
  • 上传时间

    2016年07月21日
关键词
无电解镍,镀层,X射线,聚光,日本
上传者
日立分析仪器(上海)有限公司(浦东分公司)
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资料简介

       无电解镍(镍-磷合金)镀层由于磷的含有率不同,镀层特性也不同。因此,不仅是镀层膜厚的分析,磷含有量的分析也是十分重要的。
       为检测在大气气氛下微小量范围内磷的荧光X射线的高灵敏度,聚光型光学系和半导体检测器的组合是必要的。本公司的FT9500/FT9500X系列可应对诸如此类的测量需求。此次,发布配置了升级后聚光型光学系和Vortex®检测器的FT150系列,实现了更加高度的测量。
       此份资料中,介绍了利用FT150同时测量铁上无电解镍和铜上无电解镍膜厚和磷含有量的案例。另外,也一同介绍了与FT9500X系列之间的比较。

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