1、Acceptability，acceptance 允收性，允收
前者是指在对半成品或成品进行检验时，所应遵守的各种作业条件及成文准则。后者是指执行允收检验的过程，如 Acceptance Test。

2、Acceptable Quality Level（AQL）　允收品质水准
系指被验批在抽检时，认为能满足工程要求之"不良率上限"，或指百分缺点数之上限。AQL并非为保护某特别批而设，而是针对连续批品质所定的保证。

3、Air Inclusion 气泡夹杂
在板材进行液态物料涂布工程时，常会有气泡残存在涂料中，如胶片树脂中的气泡，或绿漆印膜中的气泡等，这种夹杂的气泡对板子电性或物性都很不好。

4、AOI 自动光学检验
Automatic Optical Inspection，是利用普通光线或雷射光配合计算机程序，对电路板面进行外观的视觉检验，以代替人工目检的光学设备。

5、AQL 品质允收水准
Acceptable Quality Level，在大量产品的品检项目中，抽取少量进行检验，再据以决定整批动向的品管技术。

6、ATE 自动电测设备
为保证完工的电路板其线路系统的通顺，故需在高电压（如 250 V）多测点的泛用型电测母机上，采用特定接点的针盘对板子进行电测，此种泛用型的测试机谓之 Automatic Testing Equipment。

7、Blister 局部性分层或起泡
在电路制程中常会发生局部板面或局部板材间之分层，或局部铜箔浮离的情形，均称为 Blister。另在一般电镀过程中亦常因底材处理不洁，而发生镀层起泡的情形，尤其以镀银对象在后烘烤中zui容易起泡。

8、Bow，Bowing 板弯
当板子失去其应有的平坦度（Flatness）后，以其凹面朝下放在平坦的台面上，若无法保持板角四点落在一个平面上时，则称为板弯或板翘（Warp 或Warpage），若只能三点落在平面上时，称为板扭（Twist）。不过通常这种扭翘的情况很轻微不太明显时，一律俗称为板翘（Warpage）。

9、Break-Out 破出
是指所钻的孔已自配圆（Pad）范畴内破出形成断环情形；即孔位与待钻孔的配圆（Pad）二者之间并未对准，使得两个圆心并未落在一点上。当然钻孔及影像转移二者都有可能是对不准或破出的原因。但板子上好几千个孔，不可能每个都能对准，只要未发生"破出"，而所形成的孔环其zui窄处尚未低于规格（一般是2 mil 以上），则可允收。

10、Bridging 搭桥、桥接
指两条原本应相互隔绝的线路之间，所发生的不当短路而言。

11、Certificate证明文书
当一特定的"人员训练"或"品质试验"执行完毕，且符合某一专业标准时，特以书面文字记载以兹证明的文件，谓之 Certificate。

12、Check List 检查清单
广义是指在各种操作前，为了安全考虑所应逐一检查的项目。狭义指的是在PBC 业中，客户到现场却对品质进行了解，而逐一稽查的各种项目。

13、Continuity 连通性
指电路中（Circuits）电流之流通是否顺畅的情形。另有 Continuity Testing是指对各线路通电情况所进行的测试，即在各线路的两端各找出两点，分别以弹性探针与之做紧迫接触（全板以针床实施之），然后施加的电压 （通常为实用电压的两倍 ）， 对其进行"连通性试验"，也就是俗称的Open/Short Testing （断短路试验）。

14、Coupon，Test Coupon 板边试样
电路板欲了解其细部品质，尤其是多层板的通孔结构，不能只靠外观检查及电性测试，还须对其结构做进一步的微切片 （Microsectioning）显微检查。因此需在板边一处或多处，设置额外的"通孔及线路"图样，做为监视该片板子结构完整性（Structure Integraty）的解剖切片配合试样 （Conformal Coupon）。品质特严者，凡当切样不及格时，该片板子也将不能出货。注意；这种板边切片，不但可当成出货的品检项目，也可做为问题之对策研究，及品质改进的监视工具。 除微切片试样外， 板边有时也加设一种检查 "特性阻抗" 的特殊Coupon，以检查每片多层板的"阻抗值"是否仍控制在所规定的范围内。

15、Crazing 白斑
是指基板外观上的缺点，可能是由于局部的玻纤布与环氧树脂之间，或布材本身的纱束之间出现分裂，由外表可看到白色区域称为 Crazing。较小而又只在织点上出现者，称为"白点"（Measling）。另外当组装板外表所涂布的护形膜（Conformal Coating），其破裂也称为 Crazing。通常一般日用品瓷器，或瓷砖，在长时间使用老化后，也因与力的释放，而在表面上出现不规则的裂纹，亦称为 Crazing。

16、Crosshatch Testing十字割痕试验
是对板面皮膜附着力的一种破坏性试验。系按ASTM D3359之胶带撕起法为蓝本而稍加改变，针对板面各种干湿式皮膜的附着力试验。采多刃口之割划刀在皮膜表面垂直纵横割划，切成许多小方块再以胶带紧压然后用力撕起。各方块切口平滑且全未撕脱者以予 5分，切口均有破屑又被撕起的方块在35～65% 之间者只给1分，更糟者为 0分。连做数次进行对比，其总积分即为皮膜附着力的评分数。

17、Dendritic Growth 枝状生长
指电路板面两导体之间在湿气环境中，又受到长期电压（偏压）的影响，而出现金属离子性之树枝状蔓延生长，zui后将越过绝缘的板材表面形成搭接，发生漏电或短路的情形，谓之"枝状生长"。又当其不断渗入绝缘材料中时，则称为Dendritic Migration 或 Dentrices。

18、Deviation 偏差
指所测得的数据并不好，其与正常允收规格之间的差距，谓之 Deviation。

19、Eddy Current涡电流
在PCB业中，是一种测量各种皮膜厚度的工作原理及方法，可测非磁性金属底材之非导体皮膜厚度（如铜面的树脂层或绿漆厚度）当在一铁心的测头（Probe）上绕以线圈，施加高频率振荡的交流电（100KHz~6MHz），而令其产生磁场。当此测头接触待测厚的表面时，其底金属层中（如铜）会被感应而产生"涡电流"，此涡电流的讯号又会测头所侦测到。凡表面非导体皮膜愈厚者，其阻绝涡电流的效果愈大，使测头能接受到的讯号也愈弱。反之膜愈薄者，则测头能接受到的讯号愈强。因而可利用此种原理对非导体皮膜进行测厚。一般可测铝材表面的阳极处理膜厚度，铜箔基板上的基材厚度，及任何类似的组合。一般电路系统中也会产生涡电流，但却为只能发热而浪费掉的无效电流。

20、Dish Down 碟型下陷
指电路板面铜导体线路上有局部区域，因受到压合时不当的圆形压陷，且经蚀刻后又不巧仍留在线路上，称为"碟陷"。在高速传输的线路中，此种局部下陷处会造成阻抗值的突然变化，对整体功能不利，故应尽量设法避免。

21、Edge-Dip Solderability Test板边焊锡性测试
是一种电路板（ 或其它零件脚）焊锡性的简易测试法，可将特定线路的样板，在沾过助焊剂后，以测试机或手操作方式夹住，垂直慢慢压入熔融的锡池内，停留1~2秒后再以定速取出，洗净后可观察板子表面导体或通孔的沾锡性情形。

22、Eyelet 铆眼
是一种青铜或黄铜制作的空心铆钉，当电路板上发现某一通孔断裂时，即可加装上这种"Eyelet"，不但可维持导电功能，亦可接受插焊零件。不过由于业界对电路板品质的要求日严，使得补加 Eyelet 的机会也愈来愈少了。

23、Failure 故障，损坏
指产品或零组件无法达成正常功能之情形。

24、Fault 缺陷，瑕疵
当零组件或产品上出现一些不合规范的品质缺点，或因不良因素而无法进行正常操作时，谓之Fault。

25、Fiber Exposure 玻纤显露
是指基材表面当受到外来的机械摩擦、化学反应等攻击后，可能失去其外表所覆盖的树脂层（Butter Coat），露出底材的玻纤布，称为"Fiber Exposure"，又称为"Weave Exposure织纹显露"，在孔壁上出现切削不齐的玻纤束则称为玻纤突出（Protrusion）。

26、First Article 首产品
各种零件或组装产品，为了达到顺利量产的目的，各已成熟的工序、设备、用料及试验检验等，在整体配合程度是否仍有瑕疵，而所得到的产品是否能够符合各种既定的要求等，皆应事先充分了解，使于量产之前尚有修正的机会。为了此等目的而试产的*或*小量产品，称为First Article。

27、First Pass-Yield 初检良品率
制造完工的产品，按既定的规范对各待检项目做过初检后，已合格的产品占全数产品的比例，称为初检良品率（或称First Accept Rate ），是制程管理良好与否的一种具体指针。

28、Fixture 夹具
指协助产品在制程中进行各种操作的工具，如电路板进行电测的针盘，就是一种重要的夹具。日文称为"治具"。

29、Flashover 闪络
指板面上两导体线路之间（即使已有绿漆），当有电压存在时，其间绝缘物的表面产生一种"击穿性的放电"（Disruptive discharge），称为"闪络"。

30、Flatness平坦度
是板弯（Bow）板翘 （Twist）的新式表达法。早期在波焊插装时代的板子，对板面平坦度的要求不太讲究， IPC规范对一般板厚的上限要求是1％。近年之SMT 时代，板子整体平坦对锡膏焊点的影响极大，已严加要求不平坦的弯翘程度必须低于0.7％，甚至0.5％。因而各种规范中均改以观念更为强烈的"平坦度"代替早期板弯与板翘等用语。

31、Foreign Material 外来物，异物
广义是指纯质或调制的各种原物料中，存在一些不正常的外来物，如槽液中的灰、砂、与阻剂碎屑；或指板材树脂中与镀层的异常颗粒等。狭意则专指熔锡层或焊锡层中被全封或半掩的异物，形成粗糙、缩锡，或块状不均匀的外表。

32、Gage，Gauge 量规
此二字皆指测量所用的测计，如测孔径的"孔规"即是。

33、Golden Board 测试用标准板
指完工的电路板在进行电性连通性（Continuity）测试时（Testing），必须要有一片已确知完好正确的同料号板子做为对比，此标准板称为 Golden Board。

34、Hi-Rel 高可靠度
是 High-Reliability 的缩写，通常电路板按其所需的功能及品质可分成三种等级，其中第三级（Class 3）是zui者，即为"高可靠度品级"。

35、Hole breakout 孔位破出
简称为"破出"Breakout，是指所钻作之成形孔，其部份孔体已座落在铜盘区或方形铜垫区 （Pad）之外，使得孔壁未能受到孔环的*包围，也就是孔环已呈破断而不完整情形，对于层间互连通电的可靠度，自然大打折扣。一般板子之所以造成"破出"，影像转移偏斜的责任要大于钻孔的不准。

36、Hole Counter 数孔机
是一种利用光学原理对孔数进行自动检查的机器，可迅速检查所钻过的板子是否有漏钻或塞孔的情形存在。

37、Hole void 破洞
指已完成化学铜及两次电镀铜的通孔壁上，若因处理过程的疏忽或槽液状况的不佳，而造成孔壁上存在"见到底材"的破洞称为 Void 。这种孔壁破洞对于插孔焊接的品质有恶劣的影响，常因水气被吸入而藏纳在破洞中，造成高温焊接时有气体自破处向外喷出，使通孔中之填锡在凝固前被吹成空洞，使得此种通孔成为恶名昭彰吹孔 （Blow Hole），故知"破洞"实为吹孔的元凶。左图中之 A 及 B 均为见底的破洞，后者为大破洞， C 为未见底的破洞。 美军规范MIL-P-55110D 规定凡孔铜厚度在 0.8 mil 以下者皆视同"破洞"，可谓非常严格。

38、Inclusion 异物、夹杂物
在 PCB 中是指绝缘性板材的树脂中，可能有外来的杂质混入其中，如金属导体之镀层或锡渣，以及非导体之各种异物等，皆称为 Inclusion。此种基材中的异物将可能引起板面线路或层次之间的漏电或短路，为品检的项目之一。

39、Insulation Resistance 绝缘电阻
是指介于两导体之间的板材其耐电压之绝缘性而言，以伏特数做为表达单位。此处"两导体之间"，可指板面上相邻两导体，或多层板两相邻两层之间的导体。其测试方法是将特殊细密的梳形线路试样，故意放置在高温高湿的劣化环境中加以折腾，以考验其绝缘的品质如何。 标准的试验法可见 IPC-TM-650, 2.6.3D （Nov.88）之"湿气及绝缘电阻"试验法。此词亦有近似术语 SIR。

40、Isolation隔离性，隔绝性
本词正确含意是指板面导体线路之间的间距（Spacing） 品质，此间距品质的好坏，须以针床电测方式去做检查。按zui广用的规范IPC-RB-276在其3. 12. 2. 2节中规定，在直流测试电压200V，历经5秒钟的过程中，所得电阻读值之及格标准，就Class 1的低阶板类而言，须在0.5MΩ以上；至于 Class 2与3高阶的板类，则皆须超过 2MΩ，此种"隔离性"即俗称负面说法之找"短路" （Short）或测漏电 （Leakage） 。多数业者常将此项电测误称为"绝缘品质"之测试，此乃中外通病，多数业者均未深入认知之故，其实"绝绿"（Insulation）是指板材或材料本身之耐电性品质，而并非表达线路"间距"的制做品质如何。至于铜渣、铜碎，或导电液未*洗尽等缺失，均将造成"间距品质"之不良。业者日久积非成是，连zui基本的定义都模糊了。完工电路板出货前之常规电测共有两项，除上述之Isolation外，另一项就是测其线路的连通性 （Continuity）。按 IPC-RB-276之3. 12. 2. 1.规定，在5V 测试电压下，Class 1低阶板类的连通品质须低于50Ω 之电阻。Class 2与3高阶板粉连通品质须低于 20Ω。此项测试亦即负面俗称之找"断路Open"。故知业者人人都能朗朗上口的"Open Short Test"，其实都是不专业的负面俗称而已。专业的正确说法应为"Continuity/Ioslation Testing"才对。

41、Lifted Land 孔环（或焊垫）浮起
电路板的通孔其两端都配有孔环，如同鞋带扣环一样牢牢来紧在鞋面上。当板子在组装焊接时受到强热，将会产生 X、Y,及 Z 方向的膨胀。尤其在 Z 方向上，由于基材中"树脂部份"的膨胀将远大于通孔的"铜壁"，因而连带孔环外缘也被顶起。由于铜箔的毛面与板材树脂之间的附着力，已受到此膨胀拉扯的伤害，故当板子冷却收缩时，孔环外缘部份将无法再随树脂而缩回，因而出现分离浮开的现象。此种缺点在 1992年以前的 IPC-ML-950C（见 3.11.3）或 IPC-SD-320B（见 3.11.3），皆规定zui大只能浮开 3 mil;且还要求仍附着而未浮开的环宽，至少要占全环宽度的一半以上。不过这种规定已在新发行的 IPC-RB-276（Mar.1992）*取消了（详见电路板信息杂志第 58 期 P.79 表 10）。

42、Major Defect 严重缺点，主要缺点
指检验时发现的缺点，达影响严重的"认定标准"时，即认定为严重缺点，未达认定者则称为"次要缺点"Minor Defect。Major 原义是表达主要或重要的意念。如主要功能、主要干部等为正面表达方式，若用以形容负面的"缺点"时，似乎有些不搭调,故以译为"严重缺点"为宜。上述对 PCB 所出现缺点的认定标准，则有各种不同情况,有明文规定者则以 MIL-P-55110D zui为。

43、Mealing 起泡点
按 IPC-T-50E 的解释是指已组装之电路板,其板面所涂装的护形漆（Conformal Coating），在局部板面上发生点状或片状的浮离，也可能是从零件上局部浮起，称为泡点或起泡。

44、Measling 白点
按 IPC-T-50E 的解释是指电路板基材的玻纤布中,其经纬纱交织点处，与树脂间发生局部性的分离。其发生的原因可能是板材遭遇高温，而出现应力拉扯所致。不过 FR-4 的板材一旦被游离氟的化学品（如氟硼酸）渗入，使玻璃受到较严重的攻击，将会在各交织上呈现规则性的白点，称为 Measling。

45、Minimum Annular Ring 孔环下限
当板面上各圆垫（Pads）经钻孔后，围绕在孔外之"孔环"（Annular Ring），其zui窄处的宽度将做为检测的对象，而规范上对该处允收的下限值，谓之"孔环下限"。这是PCB 品质与技术的一种客观标准。由于圆垫的制作在先（即阻剂与蚀刻），而钻孔加工之呈现孔环在后，两种制程工序之间的配合必须，稍有闪失即不免出现偏歪，造成孔环的幅度宽窄不一。其zui窄处须保持的宽度数据，各种成文规范上都已有规定，如 IPC-RB-276 之表6中各种数据即是。以PC计算机的主机板而言，应归属于Class 2 品级，其"孔环下限"须为2 mil 。按下列 IPC-D-275中之两图（Fig 5-15 及 5-16）看来，内层孔环的界定将不含孔壁在内，而外层之孔环则又须将孔壁计算在内。

46、Misregistration 对不准，对不准度
在电路板业是指板子正反两面，8、Bow，Bowing 板弯
当板子失去其应有的平坦度（Flatness）后，以其凹面朝下放在平坦的台面上，若无法保持板角四点落在一个平面上时，则称为板弯或板翘（Warp 或Warpage），若只能三点落在平面上时，称为板扭（Twist）。不过通常这种扭翘的情况很轻微不太明显时，一律俗称为板翘（Warpage）。

47、Nick 缺口
电路板上线路边缘出现的缺口称为 Nick。另一字 Notch 则常在机械方面使用，较少见于 PCB 上。又 Dish-down 则是指线路在厚度方面的局部下陷处。

48、Open Circuits 断线
多层板之细线内层板经正片法直接蚀刻后，常发生断线情形，可用自动光学检查法加以找出，若断线不多可采小型熔接（Welding）"补线机"进行补救。外层断线则可采用选择"刷镀" （Brush Plating） 铜方式加以补救（见附图）。在现代要求严格的品质下，此等修补工作都要事先得到客户的同意，且相关文件都要存盘，以符合 ISO-9002精神。

49、Optical Comparater 光学对比器（光学放大器）
是一种将电路板实物或底片，藉由光线之透射与反射，再经机器之透镜放大系统或电子聚焦方式，由显示屏得到清晰的画面，以协助目视检查。如图所示美国 OTI 公司出品之Optek 104机种，其成像即可放大达 300 倍，且有直流马达驱动的 X、Y 可移台面，能灵活选取所要观察的定点。此种"光学对比器"之功能极多，可用于检查、测量、沟通讨论等，皆十分方便。另如程序打带机上亦装有较简单的"学对比器"。