TOP-IG 冲击缺口测量分析仪
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上市时间：2016-01-01
创新点：冲击缺口测量分析仪与传统测量不同的是，可以精确测量冲击缺口V型、U型缺口测精确尺寸，也包含了传统测量方法投影模板，可以将测量数据保存、打印出来。而传统投影检测，只能大概检测合格与否，如遇到合格与不合格边缘的时候，就无法判定合格还是不合格。不能精确测量缺口尺寸，不能将测量数据保存起来。每个人检测结果差异大。
冲击缺口测量分析仪介绍： 随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行GB/T229-2007《金属夏比冲击试验方法》 该标准对试样要求相当严格，所以在整个试验过程中，试样的加工是否合格会直接影响zui终的试验结果。如果试样加工质量不合格，那么其试验结果是不可信的，特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格以及仲裁复查的方便，其质量检验是一个重要的控制手段，目前，我公司通过电子光学投影技术检验实现了切实可行的方法。
冲击缺口测量分析仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》冲击试样缺口的要求而开发的一种于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的精密仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓投射到CMOS上，经由采集卡传输到PC，再由SMTMeasSystem_IG分析软件计算出缺口深度、缺口角度、缺口根部半径的数值，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观，消除了不同使用人员之间的操作误差，保存数据为以备日后复查提供可可靠地数据。
? 解决了传统冲击缺口检测不准确、结果无法保存、不能精确测量等缺陷，能够准确测量冲击缺口尺寸，可以将测量结果以照片、word、Excel等格式保存，以便日后复查。
该厂商的产品分类
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